思儀6433P光波元件分析儀產品簡介

6433P光波元件分析儀是面向高速電光器件、光電器件及光光器件調制特性測試的儀器，頻率范圍覆蓋10MHz~110GHz，集成電電測試、電光測試、光電測試及光光測試4種測試模式，具有對數(shù)/線性幅度、相位、群時延、Smith圓圖、極坐標等多種顯示格式，能夠精確測量光電網絡的幅/相頻特性，主要應用于高速電光器件（電光強度調制器、直接調制激光器、光發(fā)射組件）、光電器件（探測器、光發(fā)射組件、探測器芯片）及光光器件（光衰減器、EDFA）的帶寬、幅/相頻、群時延等頻響參數(shù)的測試。

典型應用

單端光器件測試

針對電光調制器、直接調制激光器等電光器件的S11參數(shù)和S21參數(shù)測試，利用多窗口顯示可快速獲取測試對象的各頻點反射和傳輸特性；針對光電探測器、ROSA、TIA集成組件等光電器件的S22參數(shù)和S21參數(shù)測試，利用光標功能可快速分析3dB帶寬，評估器件的頻響特性；針對光纖濾波器等光光器件的S21參數(shù)測試，可快速實現(xiàn)損耗、平坦度等指標的測量。

利用儀器提供的多種顯示模式,可實現(xiàn)相位、群時延等信息的顯示，可快速實現(xiàn)相頻特性等指標的測量。

平衡光器件測試

光波元件分析儀通過配置四端口機型，實現(xiàn)平衡光發(fā)射或光接收器件對差分增益和共模抑制參數(shù)的測試需求，更加貼合現(xiàn)有和未來高速光纖通信領域中多端口參數(shù)的測量場合。

光芯片在片測試

6433P光波元件分析儀搭配探針臺及高頻探針，可實現(xiàn)電光/光電芯片的頻響參數(shù)的測試。

自動化測試

6433P光波元件分析儀提供標準的SCPI程控指令集，方便用戶進行遠程控制。通過網口，只需完成設備的互聯(lián)，發(fā)送命令即可實現(xiàn)一體化的自動測試方案，方便用戶將光波元件分析儀與溫控、數(shù)字源表及被測件等共同搭建光芯片測試系統(tǒng)。

思儀6433P光波元件分析儀技術指標